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7XB 檢測金相顯微鏡

激光平面干涉儀簡介

激光平面干涉儀是一種基于激光干涉原理的精密光學測量儀器,主要用于檢測和測量光學元件和平面的平面度、平整度、平行度、厚度及微小位移等精密幾何參數。它采用單頻、穩定輸出的激光器作為光源,通過分光系統產生相干光束,并利用干涉條紋的移動或變化來精確計算待測平面的微小變化量。激光平面干涉儀具有測量范圍廣、精度高、非接觸...點擊了解更多......

激光干涉儀的測量方法

  激光干涉儀的測量方法主要基于光的干涉原理,通過測量干涉條紋的變化來推斷被測量物體的參數。以下是激光干涉儀測量方法的詳細步驟和要點:  一、基本原理  激光干涉儀利用兩束相干光在空間交叉處發生干涉,形成干涉條紋。通過測量干涉條紋的相位差或位移量,可以計算出被......[查看詳情]

激光平面干涉儀校準規范

  激光平面干涉儀校準規范涉及多個方面,包括校準的目的、范圍、環境條件、校準項目、校準方法以及校準結果的處理等。以下是對激光平面干涉儀校準規范的一個概述:  一、校準目的  激光平面干涉儀校準的主要目的是確保儀器的測量精度和穩定性,通過校準消除儀器因長期使用、......[查看詳情]